[发明专利]一种弯折测试治具有效
| 申请号： | 201810644631.5 | 申请日： | 2018-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN110631891B | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 刘伟 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/02 | 分类号： | G01N3/02;G01N3/04;G01N3/20 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201506 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种弯折测试治具。该弯折测试治具包括固定基板，固定设置于一固定机构上，固定基板包括第一载物面，其中待测产品包括所述第一非弯折部、第二非弯折部以及连接第一非弯折部和第二非弯折部的弯折部；旋转基板，可活动地设置于一限位机构上，旋转基板包括第二载物面；限位机构，用于限定旋转基板的旋转轨迹，以使旋转基板按旋转轨迹旋转时，仅弯折待测产品的弯折部。本发明实施例提供的弯折测试治具，通过限位机构限定旋转基板沿固定的旋转轨迹旋转，通过固定基板和旋转基板之间的间距限定出待测产品的弯折部的长度，在测试待测产品的弯折性能时，仅对待测产品的弯折部进行弯折，保证了弯折测试数据的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 | ||
【主权项】：
1.一种弯折测试治具，其特征在于，包括：/n固定基板，固定设置于一固定机构上，所述固定基板包括第一载物面，用于固定待测产品的第一非弯折部，其中所述待测产品包括所述第一非弯折部、第二非弯折部以及连接所述第一非弯折部和所述第二非弯折部的弯折部；/n旋转基板，可活动地设置于一限位机构上，所述旋转基板包括第二载物面，用于固定所述待测产品的所述第二非弯折部；/n所述限位机构，用于限定所述旋转基板的旋转轨迹，以使所述旋转基板按所述旋转轨迹旋转时，仅弯折所述待测产品的所述弯折部；/n所述第一载物面和所述第二载物面位于同一平面时，所述固定基板和所述旋转基板之间具有一间距，所述间距用于限定所述待测产品在弯折过程中的弯折区域的长度等于所述弯折部的长度。/n
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