[发明专利]一种三基准体系下直径要素-宽度要素基准组合遵循公差相关要求的检验公差带计算方法有效
申请号: | 201810649310.4 | 申请日: | 2018-06-22 |
公开(公告)号: | CN109086252B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 吴玉光;王伟 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G06F17/18 | 分类号: | G06F17/18 |
代理公司: | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人: | 周希良 |
地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出一种三基准体系下直径要素‑宽度要素基准组合遵循公差相关要求的检验公差带计算方法,包括:S1,对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS;全部基准要素由一个平面要素、一个直径要素和一个宽度要素组成;S2,根据D_DFS构件建立设计坐标系,根据M_DFS构件建立测量坐标系;S3,根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系;根据相对运动关系,定义转移公差和被测要素检验公差带;S4,采用变长曲柄平行四边形机构和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系,根据机构的结构参数和性能参数,计算所述被测要素检验公差带。本发明所述方法不仅局限于单一基准遵循相关要求下转移公差的计算,具有较高的理论意义和使用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 基准 体系 直径 要素 宽度 组合 遵循 公差 相关 要求 检验 计算方法 | ||
【主权项】:
1.一种三基准体系下直径要素‑宽度要素基准组合遵循公差相关要求的检验公差带计算方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,对全部基准要素分别建立D_DFS和M_DFS;所述全部基准要素由一个平面要素、一个直径要素和一个宽度要素组成;S2,从所建立的D_DFS和M_DFS中,选取两个或三个D_DFS构成D_DFS构件,选取两个或三个M_DFS构成M_DFS构件;根据所述D_DFS构件建立设计坐标系,根据所述M_DFS构件建立测量坐标系;S3,根据D_DFS构件和M_DFS构件装配后存在的相对运动建立设计坐标系和测量坐标系的相对运动关系;根据所述相对运动关系,定义转移公差和被测要素检验公差带;S4,采用变长曲柄平行四边形机构和摆杆机构的串联组合表示设计坐标系相对于测量坐标系的最大相对运动关系,根据平行四边形机构和摆杆机构的结构参数和性能参数,计算所述被测要素检验公差带。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州电子科技大学,未经杭州电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810649310.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。