[发明专利]Ｘ射线相位差成像装置有效
| 申请号： | 201810653082.8 | 申请日： | 2018-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN109106387B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 堀场日明;白井太郎;土岐贵弘;佐野哲;森本直树 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种X射线相位差成像装置。该X射线相位差成像装置具备多个光栅和用于保持多个光栅中的各个光栅的光栅保持部。多个光栅被配置成在与X射线的光轴正交的面内多个光栅的光栅构成部分延伸的方向沿着因光栅保持部引起的位置偏移最大的方向。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 相位差 成像 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线相位差成像装置，具备：X射线源；检测器，其检测从所述X射线源照射的X射线；多个光栅，所述多个光栅被配置在所述X射线源与所述检测器之间；控制部，其基于由所述检测器检测到的通过了所述多个光栅的X射线的检测信号，来生成图像；以及光栅保持部，其用于保持所述多个光栅中的各个光栅，其中，所述多个光栅被配置成在与X射线的光轴正交的面内所述多个光栅的光栅构成部分延伸的方向沿着因所述光栅保持部引起的位置偏移最大的方向。
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