[发明专利]一种批量检测晶体管密封泄漏的系统在审
申请号: | 201810659849.8 | 申请日: | 2018-06-25 |
公开(公告)号: | CN109029849A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 达令;项钰 | 申请(专利权)人: | 安庆市晶科电子有限公司 |
主分类号: | G01M3/02 | 分类号: | G01M3/02 |
代理公司: | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 | 代理人: | 傅磊 |
地址: | 246500 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提出的一种批量检测晶体管密封泄漏的系统,包括:箱体、测试底座、三通阀、酒精测试仪和真空泵;测试底座安装在箱体内部,测试底座上设有多个用于容纳带测试晶体管的凹槽;箱体顶部安装有与凹槽一一对应的伸缩杆,各伸缩杆的底端设有用于密封凹槽的盖板,伸缩杆伸长状态下,各盖板抵靠测试底座并密封对应的凹槽;伸缩杆收缩状态下,各盖板脱离测试底座;箱体外部设有多个与伸缩杆一一对应地驱动机构。本发明实现了在密封的箱体内部对于测试环境的调整和各晶体管测试前准备工作的统一,有利于保证不同凹槽中晶体管测试环境和自身状态的统一,实现各凹槽中的晶体管在相同的环境和相同的状态下进行测试,从而确保最终测试结果的精确。 | ||
搜索关键词: | 测试底座 伸缩杆 盖板 晶体管 晶体管测试 密封泄漏 批量检测 箱体内部 密封 最终测试结果 测试晶体管 酒精测试仪 测试环境 密封凹槽 驱动机构 伸长状态 收缩状态 箱体顶部 箱体外部 自身状态 三通阀 真空泵 底端 容纳 测试 统一 脱离 保证 | ||
【主权项】:
1.一种批量检测晶体管密封泄漏的系统,其特征在于,包括:箱体(1)、测试底座(2)、三通阀(3)、酒精测试仪(4)和真空泵(5);测试底座(2)安装在箱体(1)内部,测试底座(2)上设有多个用于容纳带测试晶体管的凹槽(2‑1);箱体(1)顶部安装有与凹槽(2‑1)一一对应的伸缩杆(6),各伸缩杆(6)的底端设有用于密封凹槽(2‑1)的盖板(7),伸缩杆(6)伸长状态下,各盖板(7)抵靠测试底座(2)并密封对应的凹槽(2‑1);伸缩杆(6)收缩状态下,各盖板(7)脱离测试底座(2);箱体(1)外部设有多个与伸缩杆(6)一一对应地驱动机构(8);三通阀(3)的输出端、酒精测试仪(4)的气体输入端和真空泵(5)的输入端均与箱体(1)内部连通,三通阀(3)的第一输入端和第二输入端分别用于连接酒精气体供给装置和空气供给装置。
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