[发明专利]磁性检测电路在审

专利信息
申请号: 201810661617.6 申请日: 2018-06-25
公开(公告)号: CN109754831A 公开(公告)日: 2019-05-14
发明(设计)人: 应继锋;牛宝华 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: G11C11/16 分类号: G11C11/16
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种适用于磁阻式随机存取存储器的磁性检测电路,包括一个感测阵列以及一个控制器。感测阵列包括多个感测单元。每一个感测单元包括第一种磁性穿隧接面(MTJ)装置。控制器用以读取感测单元以检测磁阻式随机存取存储器所处的外部磁场强度。然后,控制器根据磁阻式随机存取存储器的外部磁场强度强弱决定是否停止对磁阻式随机存取存储器的多个存储器单元的写入操作,并且每一个存储器单元都包括一第二种磁性穿隧接面装置。并且,第一种磁性穿隧接面装置小于第二种磁性穿隧接面装置。
搜索关键词: 磁阻式随机存取存储器 磁性穿隧 接面 感测单元 控制器 磁性检测电路 存储器单元 感测阵列 外部磁场 读取 写入操作 强弱 检测
【主权项】:
1.一种适用于一磁阻式随机存取存储器的磁性检测电路,包括:一个感测阵列,包括多个感测单元,其中每一个上述感测单元包括一第一种磁性穿隧接面装置;以及一个控制器,用以读取上述感测单元以检测上述磁阻式随机存取存储器所处的外部磁场强度;其中,上述控制器根据上述磁阻式随机存取存储器的上述外部磁场强度强弱决定是否停止对上述磁阻式随机存取存储器的多个存储器单元的写入操作,并且每一个上述存储器单元都包括一第二种磁性穿隧接面装置;其中,上述第一种磁性穿隧接面装置小于上述第二种磁性穿隧接面装置。
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