[发明专利]一种激光光谱谱线或者谱带测量装置及方法有效
| 申请号： | 201810662104.7 | 申请日： | 2018-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN109000794B | 公开（公告）日： | 2019-09-27 |
| 发明（设计）人： | 黄珂;朱峰 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J11/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 杨引雪 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种激光光谱谱线或者谱带测量装置及方法，该装置包括激光光源、谱线产生单元、第一测量单元和第二测量单元；谱线产生单元设置在激光光源的出射光路上，第一测量单元包括分束片、测量部件Ⅰ及测量部件Ⅱ，分束片设置在谱线产生单元的出射光路上，测量部件Ⅰ设置在分束片的反射光路上，测量部件Ⅱ可移动的设置在分束片的透射光路上；第二测量单元包括依次设置在分束片透射光路上的光谱标尺、可变狭缝及测量部件Ⅲ，可变狭缝及测量部件Ⅲ设置在滑块上。利用本装置可以测量得到激光光源辐射中特定谱线或者谱带的绝对能量和辐射比例，解决了光源辐射谱中特定谱线或者谱带辐射能量和比例的绝对测量问题，可以用于光源光谱辐射特性分析。 | ||
| 搜索关键词： | 测量部件 谱线 分束片 谱带 产生单元 激光光源 测量装置 第二测量 第一测量 激光光谱 可变狭缝 出射光 透射光 辐射能量 辐射特性 光源辐射 光源光谱 绝对测量 绝对能量 依次设置 辐射 反射光 可移动 滑块 光谱 标尺 测量 分析 | ||
【主权项】：
1.一种激光光谱谱线或者谱带测量装置，包括激光光源(1)、谱线产生单元；所述谱线产生单元设置在激光光源(1)的出射光路上，所述谱线产生单元产生系列谱线λ1、λ2……λn－1、λn、λn+1……λm，其中，n和m为谱线产生单元分光后产生的谱线序号，n<m；其特征在于：还包括第一测量单元和第二测量单元；所述第一测量单元包括分束片(36)、测量部件Ⅰ(38)及测量部件Ⅱ(37)，所述分束片(36)设置在谱线产生单元的出射光路上，所述测量部件Ⅰ(38)设置在分束片(36)的反射光路上，所述测量部件Ⅱ(37)可移动的设置在分束片(36)的透射光路上；所述第二测量单元包括依次设置在分束片(36)透射光路上的光谱标尺(35)、可变狭缝(4)及测量部件Ⅲ(5)；所述第二测量单元还包括导轨(6)及沿导轨(6)滑动的滑块(62)，所述可变狭缝(4)及测量部件Ⅲ(5)设置在滑块(62)上；所述激光光源(1)为连续激光光源或者准连续激光光源，所述测量部件Ⅰ(38)、测量部件Ⅱ(37)及测量部件Ⅲ(5)为功率计；或者，所述激光光源(1)为低频脉冲激光光源或者单脉冲激光光源，所述测量部件Ⅰ(38)、测量部件Ⅱ(37)及测量部件Ⅲ(5)为能量计。
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