[发明专利]一种支持芯片低功耗调试的仿真器及方法有效

专利信息
申请号: 201810670424.7 申请日: 2018-06-26
公开(公告)号: CN109002416B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 张洪波;赵满怀;刘瑾 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: G06F15/78 分类号: G06F15/78;G06F1/3237
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家镇未*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种支持芯片低功耗调试的仿真器及方法,仿真器包括仿真器管理模块、调试模块、芯片功能模块和时钟模块4部分。在低功耗模式时,时钟模块产生调试模块和芯片功能模块中CPU_DBG模块使用的低频时钟;调试模块中的PMU模块检测芯片功能模块是否处于低功耗状态,并能正确响应仿真器管理模块发出的调试命令,保证在低功耗模式下调试接口正常通信。本发明的仿真器实现了低功耗模式的调试功能,在低功耗调试操作方面与真实芯片一致,有效避免程序开发时,因仿真器不支持低功耗调试而产生的设计问题。
搜索关键词: 一种 支持 芯片 功耗 调试 仿真器 方法
【主权项】:
1.一种支持芯片低功耗调试的仿真器,其特征在于,本发明的仿真器包括:仿真器管理模块(2)、调试模块(3)、芯片功能模块(4)、时钟模块(5)4部分;在芯片功能模块(4)正常工作时,芯片功能模块(4)提供HCLK时钟给时钟模块(5),时钟模块(5)将HCLK时钟转为调试时钟DCLK,提供给芯片功能模块(4)和调试模块(3),保证芯片功能模块(4)和调试模块(3)处于相同的时钟域下进行数据交互;在芯片功能模块(4)进入低功耗模式时,HCLK时钟停止,时钟模块(5)产生DCLK,提供给芯片功能模块(4)和调试模块(3),调试模块(3)仍然响应仿真器管理模块(2)发送的调试命令,保证调试接口正常通信;当有唤醒操作产生时,调试模块(3)产生表示退出低功耗的低功耗控制信号std_ctrl,使芯片功能模块(4)退出低功耗模式。
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