[发明专利]一种基于等离子体的物体表征检测方法及装置有效
| 申请号： | 201810670746.1 | 申请日： | 2018-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN108801195B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 张静宇;刘思垣;高骥超 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于等离子体的物体表征检测方法及装置，其利用等离子体与待测物体之间相互作用力，来呈现待测物体表面的物理特征，本发明通过用等离子体作为探针，当等离子体与物体表面接近时，会与物体表面发生相互作用，通过测量等离子与物体表面的相互作用产生的影响，可以得出物体表面的轮廓，实现对物体进行表征检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 等离子体 物体 表征 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于等离子体的物体表征检测方法，其特征在于，包括：将等离子体作为探针；根据所述探针与待测物体表面发生相互作用的结果，得出所述待测物体表面的轮廓，以实现对所述待测物体进行表征检测。
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