[发明专利]千分尺及测量设备在审

专利信息
申请号: 201810673951.3 申请日: 2018-06-25
公开(公告)号: CN108917514A 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: 杜军;刘佳 申请(专利权)人: 成都华量传感器有限公司
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 王文红
地址: 610041 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了千分尺及测量设备,涉及测量设备技术领域。本发明提供的千分尺包括本体、主轴、直线轴承及光栅测量组件。本体设置有第一测量部,主轴通过直线轴承安装于本体上,且主轴伸出本体的一端端部设置有第二测量部,第二测量部与第一测量部相对设置。光栅测量组件包括绝对编码光栅、光路结构及电路板,绝对编码光栅安装于主轴上并能够随主轴运动,光路结构位于本体内并与电路板电连接,且光路结构能够将绝对编码光栅的位置变化信息传输至电路板,电路板用于根据位置变化信息得到测量数据。本发明还提供一种包括千分尺的测量设备。本发明提供的千分尺及测量设备的结构简单、使用方便,并具有良好的测量精度和测量效率。
搜索关键词: 测量设备 千分尺 电路板 绝对编码光栅 光路结构 位置变化信息 第二测量 第一测量 光栅测量 直线轴承 测量数据 测量效率 相对设置 主轴运动 组件包括 电连接 测量 伸出 体内 传输
【主权项】:
1.一种千分尺,其特征在于,包括本体、主轴、直线轴承及光栅测量组件;所述本体设置有第一测量部,所述主轴通过所述直线轴承安装于所述本体上,且所述主轴伸出所述本体的一端端部设置有第二测量部,所述第二测量部与所述第一测量部相对设置;所述光栅测量组件包括绝对编码光栅、光路结构及电路板,所述绝对编码光栅安装于所述主轴上并能够随所述主轴运动,所述光路结构位于所述本体内并与所述电路板电连接,且所述光路结构能够将所述绝对编码光栅的位置变化信息传输至所述电路板,所述电路板用于根据所述位置变化信息得到测量数据。
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