[发明专利]结构表面裂缝特征的识别与提取方法有效
申请号: | 201810682828.8 | 申请日: | 2018-06-28 |
公开(公告)号: | CN108961230B | 公开(公告)日: | 2020-09-11 |
发明(设计)人: | 苏凯;朱洪泽;王文超;伍鹤皋;石长征 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/90;G06T5/00 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 俞琳娟 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供结构表面裂缝特征的识别与提取方法,能够迅速、准确的提取裂缝特征,进而对结构进行评价,该方法包括:读取结构表面图像二维数据矩阵并输入工程参数;然后进行灰度化和降级处理,得到降级后的结构表面灰度图像;随后进行中值降噪处理;再进行图像分割;根据图像中每一条裂缝包含的像素个数和结构表面图像所显示的结构实际面积与图像像素面积之间的比例关系,得到每一条裂缝的实际面积;对各条裂缝采用相应大小的矩形框标记,得到标记图像;根据结构实际尺寸与图像像素尺寸之间的比例关系和矩形框的像素长度或宽度与每个像素的实际长度或宽度得到裂缝的实际长度和宽度;矩形框水平长度大于竖直宽度的裂缝为水平裂缝,否则为垂直裂缝。 | ||
搜索关键词: | 结构 表面 裂缝 特征 识别 提取 方法 | ||
【主权项】:
1.一种结构表面裂缝特征的识别与提取方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1.读取结构表面图像二维数据矩阵并输入工程参数;步骤2.对结构表面图像进行灰度化和降低灰度级处理,得到降级后的结构表面灰度图像;步骤3.对降级后的结构表面灰度图像进行中值降噪处理,得到去噪后的结构表面图像;步骤4.对去噪后的结构表面图像进行图像分割,得到裂缝图像;步骤5.计算裂缝图像中每一条裂缝包含的像素个数;并且计算结构表面图像所显示的结构实际面积与图像像素面积之间的比例关系,得到每个像素的实际面积;通过像素个数与每个像素的实际面积,得到每一条裂缝的实际面积;步骤6.对裂缝图像中的每一条裂缝采用相应大小的矩形框进行标记,每一个矩形框恰好包含每一条裂缝,同时矩形框应当满足面积最小原则,得到标记图像;步骤7.计算结构表面图像所显示的结构实际尺寸与图像像素尺寸之间的比例关系,得到每个像素的实际长度或宽度大小;根据矩形框的像素长度与每个像素的实际长度得到裂缝的实际长度,根据矩形框的像素宽度与每个像素的实际宽度得到裂缝的实际宽度;按照矩形框的长宽比对裂缝进行分类:矩形框水平长度大于竖直宽度的裂缝为水平裂缝,否则为垂直裂缝。
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