[发明专利]卫星整星辐射发射专用测试方法有效

专利信息
申请号: 201810683941.8 申请日: 2018-06-28
公开(公告)号: CN109142907B 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 胡星;王涵;仲兆宇;王浩;王韬;冯伟;张国升;冯元清 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出了一种卫星整星辐射发射专用的测试方法,该方法包括获取卫星有意辐射发射信息,选用合适衰减器利用接收机进行预测量,系统联调与校验,对卫星进行测试,数据处理几个步骤。本发明使用带阻滤波器加低噪放等器件的级联组合,在测试卫星辐射发射时,能在保证测试仪器安全的情况下提高卫星辐射发射测试系统的灵敏度以及动态范围。
搜索关键词: 卫星 辐射 发射 专用 测试 方法
【主权项】:
1.一种卫星整星辐射发射专用测试方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:先获取待测卫星的有意辐射频段,然后确定测试位置,以及该方向的卫星等效全向辐射功率P;步骤二:在待测点用接收机、衰减器和对应频段的标准测试天线进行预测量,选用合适的衰减器,确保在待测点位置处测得的功率P0未超过低噪放的1dB压缩点P1dB,记录接收机的实际测量值P0和衰减器衰减值L;步骤三:选用星上有意辐射频段对应的带阻滤波器,组成系统并进行测试和校验;步骤四:用信号源施加一已知功率电平的校验信号到系统校验路径,测量接收机按正式测试设置进行接收,确认测量值加上路径补偿值与信号源施加的电平差在±3dB范围之内;步骤五:卫星加电至待测状态,利用步骤四中的测试系统进行测试,根据测试系统所选用的部件,包过电缆损耗、放大器增益、滤波损耗、衰减器损耗等修正系数,对测量结果进行数据处理。
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