[发明专利]一种基于机器学习提高测量设备校准精度的方法及装置

摘要

本发明一种基于机器学习提高测量设备校准精度的方法及装置，所述方法包括：步骤a：根据测量设备所使用模拟器件的技术规格估计采样读数的均值a(j)和方差v(j)，并将标准源输出的特定电压U(j)作为校准电压；步骤b：待校准设备以一定的时间间隔对标准源输入的电压进行多次采样，并记录所有输入电压采样的读数X(j,i)；步骤c：更新采样读数的均值a(j)、测量设备采样读数方差v(j)的估值；步骤d：针对每个校准电压U(j)，获得相对应的测量设备采样读数的均值a(j)，利用获得的测量设备采样读数的均值a(j)做数据拟合，将拟合结果记录为校准结果。本发明能够达到降低偶然性因素影响，提升校准精度。

主权项

1.一种基于机器学习提高测量设备校准精度的方法，其特征在于，包括：步骤a：根据测量设备所使用模拟器件的技术规格估计采样读数的均值a(j)和方差v(j)，并将标准源输出的特定电压U(j)作为校准电压；步骤b：待校准设备以一定的时间间隔对标准源输入的电压进行多次采样，并记录所有输入电压采样的读数X(j,i)；步骤c：利用最大似然函数计算并更新采样读数的均值a(j)、测量设备采样读数方差v(j)的估值；步骤d：更新校准电压U(j)，重复步骤b和步骤c，针对每个校准电压U(j)，获得相对应的测量设备采样读数的均值a(j)，利用获得的测量设备采样读数的均值a(j)做数据拟合，将拟合结果记录为校准结果。