[发明专利]一种测定气相分子位点间距离的方法有效
| 申请号： | 201810688516.8 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN108956751B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 方向;贺木易;江游;黄泽建;戴新华;徐伟;龚晓云 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人： | 巴晓艳 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测定气相分子位点间距离的方法。该方法包括以下步骤：反应物正离子通过ESI正模式离子化，在LIT中采用全扫描模式检测正离子；反应物负离子通过ESI负模式离子化，在LIT中采用全扫描模式检测负离子；正、负离子选择性传输进入LIT进行反应，反应时间1‑1000ms，采用质量分析器检测反应产物，以此确定反应是否发生；再次进行反应，并选择共价修饰离子进行串级质谱分析，用于鉴别反应活性位点；计算获得底物能量最低构象，在此基础上测量出反应活性位点与互作位点之间距离，由此得出大分子的两位点间距。气相离子/离子反应方法反应速度快、易于控制以及高效反应位点分析，及时检测反应中间体的功能也有利于反应机理的研究。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 分子 间距 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测定气相分子位点间距离的方法，其特征在于，包括以下步骤：反应物正离子通过电喷雾离子源(ESI)正模式离子化，在线性离子阱(LIT)中采用全扫描模式检测正离子；反应物负离子通过ESI负模式离子化，在LIT中采用全扫描模式检测负离子；正、负离子选择性传输进入LIT进行反应，反应时间1‑1000ms，采用质量分析器检测反应产物，以此确定反应是否发生；再次进行反应，并选择共价修饰离子进行串级质谱分析，用于鉴别反应活性位点；计算获得底物能量最低构象，在此基础上测量出反应活性位点与互作位点之间距离，由此得出大分子的两位点间距。
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