[发明专利]一种半导体器件组装后芯片的清洗工装及清洗方法在审
申请号: | 201810690919.6 | 申请日: | 2018-06-28 |
公开(公告)号: | CN108971081A | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 徐景致 | 申请(专利权)人: | 阳信金鑫电子有限公司 |
主分类号: | B08B3/02 | 分类号: | B08B3/02;B08B3/08;B08B3/12;B08B13/00 |
代理公司: | 济南千慧专利事务所(普通合伙企业) 37232 | 代理人: | 赵长林 |
地址: | 251800 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 一种半导体器件组装后芯片的清洗工装及清洗方法,包括自前向后依次设置的两级超声溢水装置、两级超声丙酮脱水装置和烘干箱,还包括在超声溢水装置前侧设有的喷淋装置,酸洗后的芯片需要依次经过喷淋清洗、一级超声溢水清洗、二级超声溢水清洗、一级超声丙酮脱水、二级超声丙酮脱水和烘干操作。本发明采用上述结构,本发明采用上述结构,设计合理,喷淋清洗过程,有效减少了水对芯片的二次玷污,稳定芯片电性参数,提高芯片的可靠性;两级超声溢水洗,使得对芯片的清洗更彻底干净;两级超声丙酮脱水及烘干过程,彻底清除水残留,减少芯片表面可移动离子,提高芯片的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 超声 清洗 芯片 丙酮脱水 两级 半导体器件 喷淋清洗 溢水装置 工装 溢水 组装 烘干过程 喷淋装置 芯片表面 芯片电性 依次设置 有效减少 烘干箱 可移动 水残留 烘干 前向 酸洗 离子 玷污 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件组装后芯片的清洗工装,其特征在于:包括自前向后依次设置的两级超声溢水装置、两级超声丙酮脱水装置和烘干箱,所述超声溢水装置包括溢水槽,溢水槽上设有溢水电阻,溢水槽内设有超声波发振器,所述溢水槽还连接溢水槽进水管,所述溢水槽进水管一端通入到溢水槽底部,另一端连接水源;所述超声丙酮脱水装置包括丙酮脱水槽,丙酮脱水槽内设有超声波发振器和丙酮液,在超声溢水装置前侧设有喷淋装置,所述喷淋装置包括喷淋槽,所述喷淋槽的底部设有排水口,喷淋槽内设有若干喷淋头,所述喷淋头的顶部设有喷水口,底部连接喷淋槽进水管。
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