[发明专利]存储器系统、非暂时性计算机可读介质及错误校验与校正的方法在审
| 申请号： | 201810691199.5 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN109285582A | 公开（公告）日： | 2019-01-29 |
| 发明（设计）人： | 金志锡;朴商仁;朴一汉;尹翔镛;林奎善;崔晟云 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何冲;黄隶凡 |
| 地址： | 韩国京畿道水*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器系统、非暂时性计算机可读介质及错误校验与校正的方法，可提高非易失性存储器装置的良率、可靠性及寿命。用于控制非易失性存储器装置的错误校验与校正的方法包括将写入数据存储在多个存储区中。所述写入数据可通过执行错误校验与校正编码而产生。可基于从所述存储区读出的多个读取数据中的每一者来执行单独式错误校验与校正解码。当所述单独式错误校验与校正解码关于所有所述读取数据来说均失败时，可通过对所述读取数据执行逻辑运算来提供逻辑运算数据。可基于所述逻辑运算数据来执行组合式错误校验与校正解码。 | ||
| 搜索关键词： | 错误校验 校正 解码 逻辑运算 非易失性存储器装置 非暂时性计算机 存储器系统 可读介质 写入数据 组合式 良率 读出 存储 失败 | ||
【主权项】：
1.一种错误校验与校正的方法，用于控制非易失性存储器装置的错误校验与校正，其特征在于，所述错误校验与校正的方法包括：将写入数据存储在所述非易失性存储器装置的多个存储区中，所述写入数据是通过执行错误校验与校正编码而产生；基于从所述多个存储区读出的多个读取数据中的每一者来执行单独式错误校验与校正解码；当所述单独式错误校验与校正解码关于所有所述多个读取数据来说均失败时，通过对所述多个读取数据执行第一逻辑运算来提供逻辑运算数据；以及基于所述逻辑运算数据来执行组合式错误校验与校正解码。
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