[发明专利]一种基于洛伦兹力的缺陷检测方法在审
| 申请号： | 201810693390.3 | 申请日： | 2018-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN108872364A | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 王晓东;代尚军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大学 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 | 代理人： | 李楠 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于洛伦兹力的缺陷检测方法，方法包括：在箔材待测试样的一侧设置一小永磁体，箔材待测试样处于小永磁体形成的电磁敏感区内，箔材待测试样与小永磁体的距离为L；将小永磁体与测力传感器相连接；将一无针孔的箔材标准试样与小永磁体之间进行相对运动，通过测力传感器测得小永磁体受到的第一反作用力将箔材待测试样中针孔部位经过小永磁体的电磁敏感区时，通过测力传感器测得小永磁体受到的第二反作用力；得到第二反作用力与第一反作用力的反作用力变化量，通过反作用力变化量的处理得到箔材待测试样中的针孔信息。本发明的一种基于洛伦兹力的缺陷检测方法，测量过程简单，准确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 永磁体 反作用力 箔材 待测试样 测力传感器 洛伦兹力 缺陷检测 针孔 变化量 准确度 标准试样 测量过程 针孔部位 敏感 区时 | ||
【主权项】：
1.一种基于洛伦兹力的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：步骤1，在箔材待测试样的一侧设置一小永磁体，所述箔材待测试样处于小永磁体形成的电磁敏感区内，所述箔材待测试样与所述小永磁体的距离为L；步骤2，将所述小永磁体与测力传感器相连接；步骤3，将一无针孔的箔材标准试样与所述小永磁体之间进行相对运动，通过所述测力传感器测得所述小永磁体受到的第一反作用力；步骤4，将所述箔材待测试样中针孔部位经过所述小永磁体的电磁敏感区时，通过所述测力传感器测得所述小永磁体受到的第二反作用力；得到所述第二反作用力与所述第一反作用力的反作用力变化量，通过所述反作用力变化量的处理得到所述箔材待测试样中的针孔信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院大学，未经中国科学院大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810693390.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
