[发明专利]小断层影响因子分析方法及装置有效
| 申请号： | 201810696203.7 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN108828665B | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 孟凡彬;杜丽娟;马辉;郎玉泉;左卫华;杨曙光;罗忠琴;刘鹏;王刚 | 申请（专利权）人： | 中国煤炭地质总局地球物理勘探研究院;新疆维吾尔自治区煤田地质局煤层气研究开发中心 |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30 |
| 代理公司： | 11371 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 苏胜 |
| 地址： | 100000*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种小断层影响因子分析方法及装置，方法包括：获取用户输入的模型参数值集合、多个影响因子、多个目标层位属性，与每个影响因子对应的多个测试参数值；逐个利用影响因子所对应的测试参数值替换模型参数值集合中影响因子对应的模型参数值，每一次替换得到一个目标模型参数值集合；确定每个目标模型参数值集合对应的第一地球物理响应特征；利用属性特征提取公式，在第一地球物理响应特征中，分别提取与每个目标层位属性对应的第一目标层位属性值；根据提取的多个第一目标层位属性值，确定每个目标层位属性所对应的影响因子目标范围值，解决现有技术中的小断层识别精度低的问题，达到了提高小断层识别精度的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 影响因子 数值集合 目标层 小断层 分析方法及装置 地球物理 目标模型 响应特征 测试 多个目标 技术效果 属性特征 数值替换 层位 替换 | ||
【主权项】：
1.一种小断层影响因子分析方法，其特征在于，包括：/n获取用户输入的模型参数值集合、多个影响因子、多个目标层位属性，以及与每个所述影响因子分别对应的多个测试参数值，所述模型参数值集合中的模型参数值与所述影响因子一一对应；/n针对每个所述影响因子，逐个利用所述影响因子所对应的测试参数值替换所述模型参数值集合中所述影响因子对应的模型参数值，每一次替换得到一个目标模型参数值集合；/n分别基于每个所述目标模型参数值集合，确定每个所述目标模型参数值集合对应的第一地球物理响应特征；/n利用与所述目标层位属性对应的预设的属性特征提取公式，在所述第一地球物理响应特征中，分别提取与每个所述目标层位属性对应的第一目标层位属性值；/n根据提取的多个所述第一目标层位属性值，确定每个所述目标层位属性所对应的影响因子目标范围值。/n
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