[发明专利]一种近场微波谐振器谐振频率测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201810699628.3 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN109061295B 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 袁珩;李铭心;张宁;张晨;范鹏程;李瑞媛;卞国栋 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02
代理公司: 11251 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 安丽;成金玉
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种近场微波谐振器谐振频率测量系统及方法,利用电子自旋共振和金刚石氮‑空位缺陷(NV
搜索关键词: 金刚石 近场 谐振频率测量 微波谐振器 磁场装置 光学模块 微波模块 振荡频率 静磁场 色心 微波 谐振器谐振频率 电子自旋共振 有效磁场强度 测量微波 测量系统 空位缺陷 控制装置 微波脉冲 谐振频率 荧光信号 振荡测量 磁共振 导引光 光探测 谐振器 操控 加载 内嵌 磁场 照射 探测
【主权项】:
1.一种近场微波谐振器谐振频率测量方法,其测量系统包括:光学模块、微波模块、磁场装置、金刚石和控制模块,其中,/n所述的金刚石内嵌NV
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