[发明专利]一种内导体连接结构在审

专利信息
申请号: 201810712232.8 申请日: 2018-06-27
公开(公告)号: CN108808304A 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 黄克猛;沈细荣;陈伟;徐可;梁国 申请(专利权)人: 吴通控股集团股份有限公司
主分类号: H01R13/04 分类号: H01R13/04;H01R13/10;H01R13/11;H01R13/631;H01R13/641;H01R13/6476
代理公司: 苏州市新苏专利事务所有限公司 32221 代理人: 朱亦倩
地址: 215143 江苏省苏州市相城区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种内导体连接结构,包括公针与母针,两者电性连接,其特征在于:所述公针从上至下包括针头、引导部、结合部与尾端部,所述母针为一套筒,其内部设有通孔,所述公针插接于所述通孔内,且在所述结合部与所述母针通孔内壁贴合后,所述针头外露于所述通孔外。通过使用该结构,方便快速高效的检测公针与母针是否对插准确,避免盲插时因为盲插受力导致整个射频连接系统损坏,提高系统连接的可靠性。
搜索关键词: 公针 母针 通孔 连接结构 结合部 内导体 盲插 针头 从上至下 电性连接 射频连接 通孔内壁 系统连接 系统损坏 尾端部 外露 插接 对插 受力 贴合 检测
【主权项】:
1.一种内导体连接结构,包括公针与母针,两者电性连接,其特征在于:所述公针从上至下包括针头、引导部、结合部与尾端部,所述母针为一套筒,其内部设有通孔,所述公针插接于所述通孔内,且在所述结合部与所述母针通孔内壁贴合后,所述针头外露于所述通孔外。
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