[发明专利]清除装置、光刻设备和光刻方法有效
申请号: | 201810713502.7 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN110658686B | 公开(公告)日: | 2021-07-02 |
发明(设计)人: | 吴丽丽 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人: | 王宏婧 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种清除装置、光刻设备和光刻方法,所述清除装置包括:吸附单元和负压通道;所述吸附单元位于一工件台表面,所述负压通道位于所述工件台内部,所述负压通道和所述吸附单元连通并向所述吸附单元提供负压,如果光栅面板含有浸液,则可以通过负压吸附予以清洁,从而减少擦拭或更换光栅面板的几率,还能减少光栅面板的二次污染,提高了清洁光栅面板的便捷性及可靠性。 | ||
搜索关键词: | 清除 装置 光刻 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种清除装置,其特征在于,所述清除装置包括:吸附单元和负压通道;/n所述吸附单元面向待清除物的承载面设置于一工件台表面,所述负压通道位于所述工件台内部,所述负压通道和所述吸附单元连通并向所述吸附单元提供负压。/n
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