[发明专利]一种在Si(100)衬底上生长单晶氮化镓薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201810714565.4 申请日: 2018-07-03
公开(公告)号: CN108878265B 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 杨学林;沈波;冯玉霞;张智宏;刘开辉;张洁;许福军;王新强;唐宁 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;C30B25/18;C30B29/40
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 代理人: 李稚婷
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种在Si(100)衬底上生长单晶氮化镓薄膜的方法,包括:在Si(100)衬底上形成非晶SiO2层;将单晶石墨烯转移至Si(100)/SiO2衬底上;对单晶石墨烯表面进行预处理,产生悬挂键;生长AlN成核层;外延生长GaN薄膜。由于Si(100)表面重构产生两种悬挂键,导致氮化物生长时晶粒面内取向不一致而不能形成单晶,本发明以非晶SiO2层屏蔽衬底表面的两种悬挂键信息,并由石墨烯提供氮化物外延生长所需的六方模板,外延得到了连续均匀的高质量GaN单晶薄膜,为GaN基器件与Si基器件的整合集成奠定了良好的基础。
搜索关键词: 一种 si 100 衬底 生长 氮化 薄膜 方法
【主权项】:
1.一种在Si(100)衬底上生长单晶氮化镓薄膜的方法,包括以下步骤:1)在Si(100)衬底上形成非晶SiO2层;2)将单晶石墨烯转移至步骤1)得到的Si(100)/SiO2衬底上;3)对单晶石墨烯表面进行预处理,产生表面悬挂键;4)在预处理后的单晶石墨烯上生长AlN成核层;5)在AlN成核层上外延生长GaN单晶薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810714565.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top