[发明专利]一种在Si(100)衬底上生长单晶氮化镓薄膜的方法有效
申请号: | 201810714565.4 | 申请日: | 2018-07-03 |
公开(公告)号: | CN108878265B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 杨学林;沈波;冯玉霞;张智宏;刘开辉;张洁;许福军;王新强;唐宁 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C30B25/18;C30B29/40 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 | 代理人: | 李稚婷 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明公开了一种在Si(100)衬底上生长单晶氮化镓薄膜的方法,包括:在Si(100)衬底上形成非晶SiO |
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搜索关键词: | 一种 si 100 衬底 生长 氮化 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
1.一种在Si(100)衬底上生长单晶氮化镓薄膜的方法,包括以下步骤:1)在Si(100)衬底上形成非晶SiO2层;2)将单晶石墨烯转移至步骤1)得到的Si(100)/SiO2衬底上;3)对单晶石墨烯表面进行预处理,产生表面悬挂键;4)在预处理后的单晶石墨烯上生长AlN成核层;5)在AlN成核层上外延生长GaN单晶薄膜。
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