[发明专利]一种双向低压平面瞬态电压抑制二极管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201810715738.4 申请日: 2018-07-03
公开(公告)号: CN108987458B 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 李家贵 申请(专利权)人: 西安卫光科技有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/45;H01L29/861;H01L21/285;H01L21/329
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 高博
地址: 710065 *** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种双向低压平面瞬态电压抑制二极管及其制造方法,包括P型重掺杂硅衬底;在衬底的正面和背面分别形成有第一正面掺杂区和第一背面掺杂区,在衬底的正面和背面通过掺杂窗口扩散掺杂分别形成第二正面掺杂区和第二背面掺杂区,在第二正面掺杂区和第二背面掺杂区上分别形成有第二正面掺杂区氧化层和第二背面掺杂区氧化层,第二正面掺杂区氧化层和第二背面掺杂区氧化层上形成有正面接触孔和背面接触孔;在正面接触孔和背面接触孔上分别形成有正面金属电极和背面金属电极。本发明增加与硅衬底掺杂类型相同的正面掺杂区和背面掺杂区,起到调整衬底浓度,形成的PN结两端浓度梯度增大,可动离子减少,TVS漏电流减小。
搜索关键词: 一种 双向 低压 平面 瞬态 电压 抑制 二极管 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种双向低压平面瞬态电压抑制二极管,其特征在于,包括:衬底,所述衬底为P型重掺杂硅衬底;在所述衬底的正面和背面分别形成有第一正面掺杂区和第一背面掺杂区,所述第一正面掺杂区和第一背面掺杂区与所述衬底掺杂类型相同;在所述衬底的正面和背面通过掺杂窗口扩散掺杂分别形成第二正面掺杂区和第二背面掺杂区,所述第二正面掺杂区和第二背面掺杂区与所述衬底掺杂类型相反;在所述第二正面掺杂区和第二背面掺杂区上分别形成有第二正面掺杂区氧化层和第二背面掺杂区氧化层,所述第二正面掺杂区氧化层和第二背面掺杂区氧化层上形成有正面接触孔和背面接触孔;在所述正面接触孔和背面接触孔上分别形成有正面金属电极和背面金属电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安卫光科技有限公司,未经西安卫光科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810715738.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top