[发明专利]堆叠封装结构在审

专利信息
申请号: 201810717620.5 申请日: 2018-07-03
公开(公告)号: CN108962881A 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 任玉龙;孙鹏 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L23/492
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 成珊
地址: 214135 江苏省无锡市新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了堆叠封装结构,其中一种堆叠封装结构包括:封装基板或应用IC,其表面设置有第一焊点;至少两个器件,所述至少两个器件叠放;其所在的平面与所述封装基板或应用IC所在的第一平面相交;所述至少两个器件表面朝向所述封装基板或应用IC的一侧设置有第二焊点,所述第二焊点与所述第一焊点电连接。本发明所提供的堆叠封装结构,即使堆叠的层数较多,各层器件的焊盘与封装基板或应用IC上焊盘之间的距离也较短,从而连接焊盘所需的引线较短,信号传输的时延较小。此外,还能够避免TSV工艺,制作方法简单;堆叠的器件所在平面与封装基板或应用IC所在平面相交,可以降低封装尺寸,并增加封装结构中的有效单元。
搜索关键词: 封装基板 应用IC 焊点 堆叠封装结构 所在平面 堆叠 表面设置 封装结构 连接焊盘 平面相交 器件表面 信号传输 有效单元 电连接 上焊盘 叠放 焊盘 时延 封装 相交 制作
【主权项】:
1.一种堆叠封装结构,其特征在于,包括:封装基板或应用IC,其表面设置有第一焊点;至少两个器件,所述至少两个器件叠放;其所在的平面与所述封装基板或应用IC所在的第一平面相交;所述至少两个器件表面朝向所述封装基板或应用IC的一侧设置有第二焊点,所述第二焊点与所述第一焊点电连接。
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