[发明专利]一种SAR_ADC系统失调电压的校正电路及校正方法在审
申请号: | 201810723833.9 | 申请日: | 2018-07-04 |
公开(公告)号: | CN108462492A | 公开(公告)日: | 2018-08-28 |
发明(设计)人: | 杨秋平 | 申请(专利权)人: | 珠海市一微半导体有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10;H03M1/46 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 519000 广东省珠海*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种SAR_ADC系统失调电压的校正电路及校正方法,该校正电路包括PGA模块、输入控制模块、编码校正控制模块和差分比较器模块;其中,输入控制模块,与所述PGA模块相连接,用于控制校正信号源输入端的信号输出至所述PGA模块;差分比较器模块,用于通过调整第一可调电容和第二可调电容的大小以校正SAR_ADC系统的失调电压,并更新输出端得到的比较判断结果;编码校正控制模块,用于根据所述差分比较器模块输出的比较判断结果,通过调整所述第一可调电容和所述第二可调电容的电容量对应的互补编码信号,直到所述差分比较器模块的输出端在高低电平之间连续翻转两次才停止校正过程。整体电路结构实现简单,校正精度高。 | ||
搜索关键词: | 差分比较器 可调电容 校正 失调电压 校正电路 输入控制模块 比较判断 编码校正 控制模块 输出端 整体电路结构 高低电平 互补编码 模块输出 校正过程 校正信号 信号输出 电容量 翻转 更新 | ||
【主权项】:
1.一种SAR_ADC系统失调电压的校正电路,包括PGA模块,其特征在于,还包括:输入控制模块、编码校正控制模块和差分比较器模块;输入控制模块,与所述PGA模块相连接,用于在校正使能端为高电平信号时控制校正信号源输入端的信号输出至所述PGA模块,为差分比较器模块提供待校正信号源;差分比较器模块,包括第一可调电容和第二可调电容,用于通过调整第一可调电容和第二可调电容的大小以校正SAR_ADC系统的失调电压,并更新输出端得到的比较判断结果;编码校正控制模块,用于根据所述差分比较器模块输出的比较判断结果,通过编码得到调整所述第一可调电容和所述第二可调电容的电容量对应的互补编码信号,直到所述差分比较器模块的输出端在高低电平之间连续翻转两次才停止所述SAR_ADC系统失调电压的校正过程;其中所述互补编码信号为一对和值不变的P位二进制数组,P为大于1的整数;而所述第一可调电容和所述第二可调电容分别是一组电容阵列,每组电容阵列用于根据所述互补编码信号改变内部节点电容大小以校正SAR_ADC系统失调电压。
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