[发明专利]一种用于测量空间光偏振态的方法、自动测量系统与自动测量方法

摘要

本发明公开了一种用于测量空间光偏振态的方法、自动测量系统与自动测量方法，属于空间光偏振态的测量技术。本发明的方法为:观察偏振分析仪，调节微调架；对于线偏振光，测得其方位角；对于非线偏振光，根据被测光的最大椭圆度、当前椭圆度和当前斯托克斯参数间的关系，得到其方位角和椭圆度。本发明通过研究同一次测量中测得的不同参数之间的关系，能够正确地判断被测光是否正入射，从而正确地测量出入射光的偏振态。对应系统包括偏振分析仪、计算模块、驱动模块、探头和电动微调架组成。对于可见光，本发明大大减少了误差；对于不可见光，本发明同样适用，拥有较大的应用范围。

主权项

1.一种用于测量空间光偏振态的方法，基于偏振分析仪、与偏振分析仪相连的探头以及一个用于固定探头的微调架，其特征在于，进行测量的操作步骤包括：第一步：将探头初步对准被测光束的光轴；第二步：观察连接所述探头的偏振分析仪所显示的偏振态；如果是线偏振态，则执行第三步；如果是圆偏振态或椭圆偏振态，则执行第四步；第三步：调节微调架，使探头接收到的光功率达到最大，然后观察偏振分析仪，判断此时的偏振类别，如果仍然是线偏振光，表明被测空间光的真实偏振态是线偏振态，其方位角即为此时偏振分析仪显示的方位角φ；如果偏振分析仪所示的形状是椭圆偏振光或圆偏振光，则执行第四步；第四步：调节所述微调架，使偏振分析仪显示的椭圆度χ达到最大值χmax，并记录下这个值，然后执行第五步；第五步：调节所述微调架，即时记录当前的椭圆度χ和当前斯托克斯参数中s₁的值，直到满足等式为止；此时的椭圆度χ和斯托克斯参数中的s₁即为当前空间光的偏振态的真实值。