[发明专利]一种用于校准的5G阵列天线非线性点测量方法有效
申请号: | 201810733934.4 | 申请日: | 2018-07-06 |
公开(公告)号: | CN108896833B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 隆锐;欧阳骏;张舒楠 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 成都巾帼知识产权代理有限公司 51260 | 代理人: | 邢伟 |
地址: | 610000 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于校准的5G阵列天线非线性点测量方法,包括以下步骤:S1.建立测量模型;S2.调整天线阵列的初始相位,并使阵列总场强度大于每个天线单元场强度的两倍;S3.激励阵列天线的所有天线单元,测量得到阵列信号功率;S4.对于各个天线端口,依次激励其对应的天线单元,测量各天线端口到测量端口的传输系数矩阵作为先验信息;S5.依次测试各个天线单元在90度、180度相移情况下的阵列信号功率,并据此求解各个天线的归一化幅度和相位,得到中间向量的归一化表示;S6.根据测量模型,计算天线真实激励向量的归一化数据作为测量结果。本发明能够精确测量阵列天线各个天线单元的端口真实激励,为5G阵列天线的校准提供准确的依据。 | ||
搜索关键词: | 天线单元 阵列天线 校准 天线 测量模型 天线端口 阵列信号 点测量 测量 传输系数矩阵 归一化幅度 归一化数据 测量端口 测量阵列 初始相位 天线阵列 先验信息 中间向量 归一化 求解 相移 向量 测试 | ||
【主权项】:
1.一种用于校准的5G阵列天线非线性点测量方法,其特征在于:包括以下步骤:S1.建立测量模型:设阵列天线包括N个天线单元,每个天线单元对应于一个天线端口,建立阵列天线真实激励向量
的测量模型为:
ai表示第i个天线端口的初始复激励,i=1,2,...,N;
Ei是其电场幅度,φi是其相位值,其中:
表示传输系数矩阵:![]()
为计算天线真实激励的中间向量:
式中,sN+1,i表示第i个天线端口到测量端口的传输系数,i=1,2,...,N;S2.调整天线阵列的初始相位,并使阵列总场强度大于每个天线单元场强度的两倍;S3.激励阵列天线的所有天线单元,测量得到阵列信号功率P0;S4.对于各个天线端口,依次激励其对应的天线单元,测量各天线端口到测量端口的传输系数矩阵
作为先验信息;S5.依次测试各个天线单元在90度、180度相移情况下的阵列信号功率,并据此求解各个天线的归一化幅度和相位,得到中间向量
的归一化表示
所述步骤S5包括以下子步骤:S501.将第m个天线端口所对应的天线单元作为待测单元,并进行激活,测试该天线单元在90度、180度相移情况下的阵列信号功率Pπ/2,Pπ;S502.根据P0、Pπ/2、Pπ建立电场强度和电场相位的方程式:![]()
![]()
式中,
表示除去待测单元外的阵列电场幅度,
表示除去待测单元外的电场相位;Em表示待测单元电场幅度,φm表示待测单元电场相位;由上面三个方程式建立方程CZ=P,其中![]()
P=[P0 Pπ/2 Pπ]T;根据满秩矩阵C和已知量P,求得Z=[z1 z2 z3]T;由于Z的定义式子,得到
故:
从z1,z2的定义,得到:
由二次方程组的求根公式得到如下两个解:
由于步骤S2中预先调节,使得阵列总场强度大于每个天线单元场强度的两倍,所以较小的是|Em|即第m个天线单元的幅度值Em,较小|Em|所对应的解中另一个参数即为除去第m个单元外的阵列电场幅度
S503.根据|Em|,
计算m个天线单元的归一化幅度km和归一化相位
设E0是阵列总场的幅度值,φ0是阵列总场的相位值,由电磁场叠加定理,电阵列总场的值等于余下各个场值的和,所以有
利用阵列总场的幅度值和相位值,对第m个天线单元的幅度和相位进行归一化:
故得到:
S504.重复步骤S501~S503,依次求得每一天线端口所对应天线单元的归一化幅度和相位;S505.根据各个天线单元的归一化幅度和相位,求解中间向量
对应的归一化向量![]()
![]()
为N维列矩阵,
代表第m个天线单元的归一化幅度和相位,m=1,2,…,N;S506.根据测量模型,计算天线真实激励向量
的归一化数据
作为测量结果:![]()
为步骤S4中计算得到的传输系数矩阵,
为步骤S505中计算得到的归一化向量;S6.根据测量模型,计算天线真实激励向量
的归一化数据
作为测量结果:![]()
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810733934.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:微带天线的远场测试系统
- 下一篇:一种电工作业用衣服