[发明专利]纳米颗粒追踪装置有效
申请号: | 201810735538.5 | 申请日: | 2018-07-06 |
公开(公告)号: | CN108844866B | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 张达;王继军;江学舟 | 申请(专利权)人: | 北京世纪朝阳科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 100081 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及一种纳米颗粒追踪装置,包括:激光器,用于发射第一激光束;光学整形单元,用于将第一激光束整形成光强均匀分布的激光束,光学整形单元包括:扫描单元和会聚单元;扫描单元,用于调整第一激光束的方向得到第二激光束,将第二激光束反射到会聚单元;会聚单元,用于将第二激光束会聚为第三激光束,并出射到样品池;图像采集单元,用于采集样品池中纳米颗粒的图像;图像处理单元,与图像采集单元连接,用于分析图像以得到样品池中样品的参数。通过在激光器的出射光路上设置光学整形单元,光学整形单元能够将激光器发射的激光束整形成光强均匀的激光束,提高了纳米颗粒测量的准确度,降低了校准过程的复杂程度。 | ||
搜索关键词: | 纳米 颗粒 追踪 装置 | ||
【主权项】:
1.一种纳米颗粒追踪装置,其特征在于,包括:激光器、光学整形单元、图像采集单元以及图像处理单元;激光器,用于发射第一激光束;光学整形单元,用于将第一激光束整形成光强均匀分布的激光束,光学整形单元包括:扫描单元和会聚单元;扫描单元,用于调整所述第一激光束的方向得到第二激光束,将所述第二激光束反射到所述会聚单元,所述第二激光束包括多条在空间上连续分布的、被反射的第一激光束;会聚单元,用于将所述第二激光束会聚为第三激光束,并出射到样品池,其中,所述第三激光束中的每条激光束互相平行;图像采集单元,用于采集样品池中纳米颗粒的图像;图像处理单元,与所述图像采集单元连接,用于分析所述图像以得到样品池中样品的参数;其中,所述扫描单元的主光轴与会聚单元的主光轴在同一直线上。
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