[发明专利]一种双层探测器的能量谱校正方法与装置有效
| 申请号： | 201810736805.0 | 申请日： | 2018-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN109100775B | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 孟庆振 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 张涛 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双层探测器的能量谱校正方法与装置包括：根据双能量CT的配置和额定参数确定射线能量谱分布、能量段阈值、和双层探测器的上层材料厚度，其中能量段阈值将射线能量谱分布划分为低能量段和高能量段；根据射线能量谱分布和能量段阈值确定平均线性衰减系数；根据上层材料的光生电荷量、下层材料的光生电荷量、平均线性衰减系数、和上层材料厚度，确定低能量段的光生电荷量。本发明能够针对不同双层探测器或不同类型的双层探测器进行能量谱校正，移除高能拖尾效应在上层探测器产生的冗余电荷，获得准确的光生电荷量与探测结果，提高图像重建的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 双层 探测器 能量 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种双层探测器的能量谱校正方法，其特征在于，包括以下步骤：根据双能量CT的配置和额定参数确定射线能量谱分布、能量段阈值、和双层探测器的上层材料厚度，其中所述能量段阈值将所述射线能量谱分布划分为低能量段和高能量段；根据所述射线能量谱分布和所述能量段阈值确定平均线性衰减系数；根据上层材料的光生电荷量、下层材料的光生电荷量、所述平均线性衰减系数、和所述上层材料厚度，确定所述低能量段的光生电荷量。
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