[发明专利]近场电磁波测量系统和多功能近场电磁波测量方法有效

专利信息
申请号: 201810737613.1 申请日: 2018-07-06
公开(公告)号: CN108872269B 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 闫焕磊;时西航;许弘毅;高振 申请(专利权)人: 深圳凌波近场科技有限公司
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 郑海峰
地址: 518049 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种近场电磁波测量系统,二维平面移动系统、上位机、矢量网络分析仪、升降台、水平调节装置、近场测量探头;上位机与矢量网络分析仪相连,矢量网络分析仪的输入端与近场测量探头相连,输出端与样品相连,样品放置在水平调节装置上;水平调节装置固定在升降台上;升降台固定在二维平面坐标移动系统上;近场测量探头固定于样品上方空间。本发明既可用于波导(谐振腔、光子晶体、负折射材料等)样品测量,又可以用于在开放环境中的天线样品的测量,仅需方便的调整部分部件即实现,可以有效的解决实验成本过高问题,同时用于多种样品的测量还可以有效的节约实验时间和空间。
搜索关键词: 近场 电磁波 测量 系统 多功能 测量方法
【主权项】:
1.一种近场电磁波测量系统,其特征在于包括:二维平面移动系统、上位机、矢量网络分析仪、升降台、水平调节装置、近场测量探头;上位机与矢量网络分析仪相连,矢量网络分析仪的输入端通过射频连接线与近场测量探头相连,矢量网络分析仪的输出端通过射频连接线与样品相连,样品放置在水平调节装置上;水平调节装置固定在升降台上;升降台固定在二维平面坐标移动系统上;近场测量探头固定于样品上方空间;所述的二维平面移动系统通过上位机控制带动升降台在X轴和Y轴方向移动,升降台用于调节水平调节装置的高度。
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