[发明专利]一种芯片测试装置有效
| 申请号： | 201810738353.X | 申请日： | 2018-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN108646172B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 邓文博 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 张涛 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试装置包括：JTAG连接模块，具有JTAG测试工具和单个JTAG连接器，JTAG测试工具安装在单个JTAG连接器上；切换模块，单个JTAG连接器通过切换模块连接到两个被测芯片，切换模块可切换地向两个被测芯片的输入端提供JTAG测试工具的输出、并向JTAG测试工具的输入端提供两个被测芯片的输出；控制模块，连接到切换模块，控制模块通过对切换模块的切换使能端提供高/低电平来控制JTAG测试工具对两个被测芯片进行测试的方式。本发明能够针对不同芯片或不同类型的芯片进行灵活切换和测试，降低JTAG链路拓扑的体积并且便于操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：JTAG连接模块，具有JTAG测试工具和单个JTAG连接器，所述JTAG测试工具安装在所述单个JTAG连接器上；切换模块，所述单个JTAG连接器通过所述切换模块连接到两个被测芯片，所述切换模块可切换地向所述两个被测芯片的输入端提供所述JTAG测试工具的输出、并向所述JTAG测试工具的输入端提供所述两个被测芯片的输出；控制模块，连接到所述切换模块，所述控制模块通过对所述切换模块的切换使能端提供高/低电平来控制所述JTAG测试工具对所述两个被测芯片进行测试的方式。
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