[发明专利]裂缝剪切滑移量测量方法有效

专利信息
申请号: 201810750330.0 申请日: 2018-07-10
公开(公告)号: CN108952698B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 张广清;林灿坤;庄建满;吕延军 申请(专利权)人: 中国石油大学(北京)
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B43/26
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;刘飞
地址: 102249*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例提供了一种裂缝剪切滑移量测量方法,该方法包括:制备裂缝性储层的物理模型;所述物理模型内设有模拟井筒、预制裂缝和光纤光栅,所述预制裂缝与所述模拟井筒的出液口相连,所述模拟井筒的进液口与外界连通;将所述物理模型置于水力压裂模型平台的围压腔内,并对所述物理模型加载指定围压;经由所述进液口向所述物理模型内注入压裂液,并利用所述光纤光栅获取所述物理模型在所述压裂液作用下的裂缝剪切滑移量。本申请实施例可以实现在室内实验室条件下测量裂缝性储层物理模型的裂缝剪切滑移量,可用认识和缓解水平井压裂中的套损。
搜索关键词: 裂缝 剪切 滑移 测量方法
【主权项】:
1.一种裂缝剪切滑移量测量方法,其特征在于,包括:制备裂缝性储层的物理模型;所述物理模型内设有模拟井筒、预制裂缝和光纤光栅,所述预制裂缝与所述模拟井筒的出液口相连,所述模拟井筒的进液口与外界连通;将所述物理模型置于水力压裂模型平台的围压腔内,并对所述物理模型加载指定围压;经由所述进液口向所述物理模型内注入压裂液,并利用所述光纤光栅获取所述物理模型在所述压裂液作用下的裂缝剪切滑移量。
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