[发明专利]一种单片集成半导体器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810750740.5 申请日: 2018-07-10
公开(公告)号: CN108649048A 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 刘召军;刘亚莹;张珂;刘弈博 申请(专利权)人: 南方科技大学
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;G09F9/30
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 518000 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例公开了一种单片集成半导体器件及其制备方法,该器件包括:衬底;衬底包括第一区域和围绕第一区域的第二区域;设置于第一区域上的HEMT,HEMT包括沿远离衬底方向依次层叠设置的沟道层、空间层、势垒层及设置于势垒层上的源极和栅极;设置于第二区域上并围绕HEMT设置的LED,LED包括沿远离衬底方向依次层叠设置的n型层、有源层、p型层及设置于p型层上的p型电极;n型层的侧壁与沟道层的侧壁接触。本发明实施例提供的单片集成半导体器件,实现了电压控制LED,并通过设置LED围绕HEMT,增加了LED的n型层和HEMT的沟道层接触面积,提高了电子的注入,改善了电流的均匀性,有效提高了器件的电学性能。
搜索关键词: 半导体器件 单片集成 第一区域 沟道层 衬底方向 第二区域 依次层叠 势垒层 衬底 制备 侧壁接触 电学性能 电压控制 均匀性 空间层 侧壁 源层 源极
【主权项】:
1.一种单片集成半导体器件,其特征在于,包括:衬底;所述衬底包括第一区域和围绕所述第一区域的第二区域;设置于所述衬底的所述第一区域上的高电子迁移率晶体管HEMT,所述HEMT包括沿远离所述衬底方向依次层叠设置的沟道层、空间层、势垒层以及设置于所述势垒层上的源极和栅极;设置于所述衬底的所述第二区域上并围绕所述HEMT设置的发光二极管LED,所述LED包括沿远离所述衬底方向依次层叠设置的n型层、有源层、p型层以及设置于所述p型层上的p型电极;其中,所述n型层的侧壁与所述沟道层的侧壁接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南方科技大学,未经南方科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810750740.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top