[发明专利]辐射检查系统在审

专利信息
申请号: 201810756262.9 申请日: 2018-07-11
公开(公告)号: CN108614301A 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 宋全伟;李营;夏茂辉;王伟珍;于昊;李荐民;史俊平;李玉兰;宗春光;陈志强;李元景;张丽 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 宋少娜;艾春慧
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种辐射检查系统,其包括:平台,顶部用于承载被检测物;框架,相对所述平台可移动,所述框架形成允许所述平台上承载的被检测物通过的通道;射线源,设于所述框架的顶部;底盘,可移动地设于所述平台的底部;以及底部探测器,设于所述底盘上,用于接收所述射线源发出的射线。本发明可以缩小辐射检查系统的占地面积,减小辐射防护区面积;可迅速组装并可快速开始扫描。
搜索关键词: 辐射检查系统 被检测物 射线源 底盘 承载 底部探测器 辐射防护 可移动地 可移动 减小 射线 扫描 组装
【主权项】:
1.一种辐射检查系统,其特征在于,包括:平台(1),顶部用于承载被检测物(7);框架(2),相对所述平台(1)可移动,所述框架(2)形成允许所述平台(1)上承载的被检测物(7)通过的通道;射线源(4),设于所述框架(2)的顶部;底盘(3),可移动地设于所述平台(1)的底部;以及底部探测器(6),设于所述底盘(3)上,用于接收所述射线源(4)发出的射线。
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