[发明专利]对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法有效

专利信息
申请号: 201810756556.1 申请日: 2018-07-11
公开(公告)号: CN109100635B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 原义栋;赵毅强;辛睿山;叶茂;张海峰 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网有限公司;国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/317
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 周际;张鹏
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法。该电路包括随机数产生电路和信号比对电路。随机数产生电路用于产生随机数序列,每一路随机数均通过两个传输通道进行传输,所述两个传输通道分别为所述多通道金属屏蔽布线层和所述芯片的下层金属线;信号比对电路对所述两个传输通道输出至所述信号比对电路的随机数信号进行比对,当比对失败的次数超过一定数值,则认为该芯片的多通道金属屏蔽布线层受到攻击并产生报警信号。所述对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法能够准确地检测多通道金属屏蔽布线层是否受到攻击,避免走线内信号干扰造成的误判。
搜索关键词: 通道 金属 屏蔽 布线 进行 完整性 检测 电路 方法
【主权项】:
1.一种对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路,其特征在于,该电路包括:随机数产生电路,用于产生随机数序列,随机数序列中的每一路随机数均通过两个传输通道进行传输,所述两个传输通道分别为所述多通道金属屏蔽布线层和所述芯片的下层金属线;以及信号比对电路,与所述两个传输通道均相连,用于对所述两个传输通道输入至所述信号比对电路的随机数信号进行比对,若随机数产生电路产生的某一路随机数分别经由所述两个传输通道输出到信号比对电路的两个信号相同则认为比对成功,反之,若所述两个信号不同,则认为比对失败,当比对失败的次数超过一定数值,则认为该芯片的多通道金属屏蔽布线层受到攻击并产生报警信号。
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