[发明专利]一种数字测试方法及系统在审
| 申请号： | 201810760552.0 | 申请日： | 2018-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN109143026A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 许伟达;潘潇雨;刘伟;许瓅;李春 | 申请（专利权）人： | 上海航天信息研究所;上海精密计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种数字测试方法，用于测试待测器件所需的频率高于测试设备的频率的待测器件，包括定义测试设备端的至少两个通道对应待测器件端的其中一个管脚；将通道、管脚均定义为数字通道；建立设备端与管脚的对应关系；对每个数字通道进行定义：对每个数字通道各加载测试待测器件需要的波形信号；包括将每个数字通道的周期等分，份数为所有数字通道的个数，定义等分后的时间段为小周期；数字通道加载的波形信号只分布在一个小周期内，其余小周期内无波形信号，且数字通道加载的波形信号分别置于不同的小周期；波形信号传输至待测器件的一个管脚，管脚接收的周期信号为在每个小周期内均加载有对应每个数字通道的小周期内加载的波形信号。 | ||
| 搜索关键词： | 数字通道 波形信号 待测器件 管脚 加载 测试设备 数字测试 加载测试 建立设备 周期信号 时间段 测试 传输 | ||
【主权项】：
1.一种数字测试方法，其特征在于，所述数字测试方法用于测试待测器件所需的频率高于测试设备的频率的待测器件，包括步骤：步骤1：定义所述测试设备端的至少两个通道对应所述待测器件端的其中一个管脚；步骤2：对所述通道、所述管脚进行定义：将所述通道、所述管脚均定义为数字通道；步骤3：建立所述设备端与所述管脚的对应关系：所述对应关系包括多对一关系和一对一关系；步骤4：对每个所述数字通道进行定义，包括：对每个所述数字通道各加载测试待测器件需要的波形信号；每个所述数字通道加载波形信号的方式为：将每个所述数字通道的周期等分，等分的份数为所有所述数字通道的个数，定义等分后的时间段为小周期；每个所述数字通道加载的波形信号只分布在一个小周期内，其余小周期内无波形信号，且每个所述数字通道加载的波形信号分别置于不同的所述小周期；步骤5:应用步骤4定义的每个所述数字通道，完成所述设备端的每个所述数字通道加载的波形信号根据对应关系传输至所述待测器件的一个管脚，所述管脚接收的周期信号为在每个所述小周期内均加载有对应每个所述数字通道的小周期内加载的波形信号。
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