[发明专利]一种三维半导体存储器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810764336.3 申请日: 2018-07-12
公开(公告)号: CN108962912A 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 王恩博;杨号号;肖莉红;闾锦;张勇;陶谦;胡禺石;朱宏斌;吕震宇 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11582 分类号: H01L27/11582
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 骆希聪
地址: 430205 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种三维半导体存储器,包括:衬底、位于该衬底上的第一堆叠结构、位于该第一堆叠结构上的第二堆叠结构、垂直于该衬底的上表面的第一沟道孔、垂直于该衬底的上表面的第二沟道孔和中间导电部,该中间导电部位于该第一沟道孔和该第二沟道孔之间,与第一沟道孔中的第一沟道层、沟道孔中的第二沟道层都接触;还包括与该第二沟道孔对应的第二存储层,该第二存储层与该中间导电部隔离。本发明所提供的三维半导体存储及其制备方法,由于将第二存储层与中间导电部隔离,所以能够较好的避免沟道层与中间导电部之间形成曲折回路,使得中间导电部更容易被反型,从而电子迁移率更高。因此本发明可以提高三维存储器的编程和擦写性能。
搜索关键词: 沟道 中间导电部 衬底 堆叠结构 存储层 沟道层 三维半导体存储器 上表面 制备 垂直 隔离 半导体存储 电子迁移率 三维存储器 导电部位 曲折回路 擦写 反型 编程 三维
【主权项】:
1.一种三维半导体存储器,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底上的第一堆叠结构,所述第一堆叠结构包括多个间隔设置的第一栅极层;位于所述第一堆叠结构上的第二堆叠结构,所述第二堆叠结构包括多个间隔设置的第二栅极层;垂直于所述衬底的上表面的第一沟道孔,所述第一沟道孔位于所述第一堆叠结构中,所述第一沟道孔内设有第一沟道层;垂直于所述衬底的上表面的第二沟道孔,所述第二沟道孔位于所述第二堆叠结构中,所述第二沟道孔内设有第二沟道层;中间导电部,所述中间导电部位于所述第一沟道孔和所述第二沟道孔之间,所述中间导电部与所述第一沟道层、所述第二沟道层都接触;与所述第二沟道孔对应的第二存储层,所述第二存储层与所述中间导电部隔离。
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