[发明专利]一种三维半导体存储器及其制备方法在审
申请号: | 201810764336.3 | 申请日: | 2018-07-12 |
公开(公告)号: | CN108962912A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 王恩博;杨号号;肖莉红;闾锦;张勇;陶谦;胡禺石;朱宏斌;吕震宇 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11582 | 分类号: | H01L27/11582 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 骆希聪 |
地址: | 430205 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种三维半导体存储器,包括:衬底、位于该衬底上的第一堆叠结构、位于该第一堆叠结构上的第二堆叠结构、垂直于该衬底的上表面的第一沟道孔、垂直于该衬底的上表面的第二沟道孔和中间导电部,该中间导电部位于该第一沟道孔和该第二沟道孔之间,与第一沟道孔中的第一沟道层、沟道孔中的第二沟道层都接触;还包括与该第二沟道孔对应的第二存储层,该第二存储层与该中间导电部隔离。本发明所提供的三维半导体存储及其制备方法,由于将第二存储层与中间导电部隔离,所以能够较好的避免沟道层与中间导电部之间形成曲折回路,使得中间导电部更容易被反型,从而电子迁移率更高。因此本发明可以提高三维存储器的编程和擦写性能。 | ||
搜索关键词: | 沟道 中间导电部 衬底 堆叠结构 存储层 沟道层 三维半导体存储器 上表面 制备 垂直 隔离 半导体存储 电子迁移率 三维存储器 导电部位 曲折回路 擦写 反型 编程 三维 | ||
【主权项】:
1.一种三维半导体存储器,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底上的第一堆叠结构,所述第一堆叠结构包括多个间隔设置的第一栅极层;位于所述第一堆叠结构上的第二堆叠结构,所述第二堆叠结构包括多个间隔设置的第二栅极层;垂直于所述衬底的上表面的第一沟道孔,所述第一沟道孔位于所述第一堆叠结构中,所述第一沟道孔内设有第一沟道层;垂直于所述衬底的上表面的第二沟道孔,所述第二沟道孔位于所述第二堆叠结构中,所述第二沟道孔内设有第二沟道层;中间导电部,所述中间导电部位于所述第一沟道孔和所述第二沟道孔之间,所述中间导电部与所述第一沟道层、所述第二沟道层都接触;与所述第二沟道孔对应的第二存储层,所述第二存储层与所述中间导电部隔离。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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