[发明专利]接口扩展模组、老化测试系统、老化测试方法及存储介质在审
| 申请号： | 201810765627.4 | 申请日： | 2018-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN108919006A | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 汝峰;徐晓东;裴聪健;冯宇飞 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 李梅香;张颖玲 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种老化测试的接口扩展模组、老化测试系统、老化测试方法及存储介质。老化测试的接口扩展模组，包括：扩展组件，用于将老化测试设备提供的一组测试信号转换为N组控制信号，并将被测设备提供的N组第一状态信号转换为一组第二状态信号，其中，一组所述控制信号用于一个所述被测设备的老化测试控制；所述第一状态信号为所述被测设备基于老化测试的状态产生的；N为不小于2的正整数；第一端口，与所述扩展组件连接，用于与所述老化测试设备的测试接口连接，并接收所述测试信号及向所述老化测试设备提交所述第二状态信号；第二端口，与所述扩展组件连接，用于与所述被测设备连接，输出所述控制信号及接收所述第一状态信号。 | ||
| 搜索关键词： | 老化测试 状态信号 被测设备 老化测试设备 接口扩展 扩展组件 模组 老化测试系统 测试信号 存储介质 控制信号 组控制信号 测试接口 状态产生 正整数 转换 输出 | ||
【主权项】：
1.一种老化测试的接口扩展模组，其特征在于，包括：扩展组件，用于将老化测试设备提供的一组测试信号转换为N组控制信号，并将被测设备提供的N组第一状态信号转换为一组第二状态信号，其中，一组所述控制信号用于一个所述被测设备的老化测试控制；所述第一状态信号为所述被测设备基于老化测试的状态产生的；N为不小于2的正整数；第一端口，与所述扩展组件连接，用于与所述老化测试设备的测试接口连接，并接收所述测试信号及向所述老化测试设备提交所述第二状态信号；第二端口，与所述扩展组件连接，用于与所述被测设备连接，输出所述控制信号及接收所述第一状态信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长江存储科技有限责任公司，未经长江存储科技有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810765627.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种便携式易组装大功率负载模块
- 下一篇：微电子测试系统
