[发明专利]一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台在审
| 申请号： | 201810766996.5 | 申请日： | 2018-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN108709897A | 公开（公告）日： | 2018-10-26 |
| 发明（设计）人： | 贺琼瑶;朱万全;张玲;黄天林;吴桂林;黄晓旭 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01N23/2204 | 分类号： | G01N23/2204;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 | 代理人： | 包晓静 |
| 地址： | 400044 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明属于纳米材料技术领域，公开了一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台设置有：样品台底座；样品台底座尾端呈矩形，前端呈燕尾形，与后端呈直角，样品台底座尾端开设有圆孔，样品台底座前端焊接有外铜管，外铜管前端套设有内铜管，外铜管和内铜管之间通过摩擦力固定，内铜管前端卡接有三维原子探针针状试样。本发明设计巧妙，容易拆卸，操作方便，成本较低，样品台可以重复利用，该样品台容易与两种三维原子探针针状样品的制备方法结合起来，制样和电子显微分析有效率地联系了起来，将三维原子探针的化学成分信息与三维透射电子显微镜的微观组织信息充分结合，具有较好的适用性，能够得到更为普遍的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 样品台底座 原子探针 三维 内铜管 外铜管 样品台 跨尺度 尾端 透射电子显微镜 电子显微分析 纳米材料技术 成分信息 台本发明 微观组织 针状样品 重复利用 针状 通用 前端卡 前端套 燕尾形 圆孔 制样 拆卸 制备 焊接 应用 | ||
【主权项】：
1.一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台，其特征在于，所述3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台设置有：样品台底座；样品台底座尾端呈矩形，前端呈燕尾形，与后端呈直角，样品台底座尾端开设有圆孔，样品台底座前端焊接有外铜管，外铜管前端套设有内铜管，外铜管和内铜管之间通过摩擦力固定，内铜管前端卡接有三维原子探针针状试样。
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