[发明专利]一种辐射敏感度测试方法在审

专利信息
申请号: 201810768741.2 申请日: 2018-07-13
公开(公告)号: CN109061343A 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 李文杰;方建新;刘洋;杨阳;侯钧 申请(专利权)人: 成都四威功率电子科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 代理人: 李蕊;何凡
地址: 610000 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种辐射敏感度测试方法,其包括以下步骤:S1、获取被测对象的三维仿真模型数据和辐射天线的近场辐射场强分布数据;S2、根据被测对象的三维仿真模型数据和辐射天线的近场辐射场强分布数据得到被测对象在不同测试距离、不同位置上的不同频率电磁波入射场强分布数据;S3、根据电磁波入射场强分布数据获取辐射天线3dB场强覆盖范围数据、场强均匀性数据,以及进行充分覆盖测试并得到测试位置数据,完成对辐射敏感度的测试。本发明可以对不同测试距离、不同频率给出不同形状对象表面入射场强的强度分布,可对试验辐射区域场强均匀性进行评估,指导被测对象电磁防护研发。
搜索关键词: 被测对象 场强分布 场强 辐射天线 入射 辐射敏感度测试 三维仿真模型 测试距离 近场辐射 均匀性数据 频率电磁波 测试位置 场强覆盖 电磁防护 对象表面 范围数据 辐射区域 覆盖测试 强度分布 数据获取 电磁波 均匀性 敏感度 研发 测试 辐射 评估 试验
【主权项】:
1.一种辐射敏感度测试方法,其特征在于:包括以下步骤:S1、获取被测对象的三维仿真模型数据和辐射天线的近场辐射场强分布数据;S2、根据被测对象的三维仿真模型数据和辐射天线的近场辐射场强分布数据得到被测对象在不同测试距离、不同位置上的不同频率电磁波入射场强分布数据;S3、根据电磁波入射场强分布数据获取辐射天线3dB场强覆盖范围数据、场强均匀性数据,以及进行充分覆盖测试并得到测试位置数据,完成对辐射敏感度的测试。
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