[发明专利]用于操作磁致伸缩位置测量装置的方法有效
申请号: | 201810769440.1 | 申请日: | 2018-07-13 |
公开(公告)号: | CN109253744B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 阿希姆·泽恩;托拜厄斯·鲁普;桑多尔·帕利 | 申请(专利权)人: | 巴鲁夫公司 |
主分类号: | G01D5/48 | 分类号: | G01D5/48 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;吴启超 |
地址: | 德国诺*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
本发明涉及一种用于操作磁致伸缩位移测量装置的方法,所述磁致伸缩位移测量装置具有用于引导至少一个机械波的波导,具有至少一个阻尼区,具有沿着所述位置测量装置的测量范围可移动地布置的磁性位置编码器以及具有检测单元,其中所述至少一个机械波借助于具有时钟频率(f |
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搜索关键词: | 用于 操作 伸缩 位置 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于操作磁致伸缩位移测量装置(1)的方法,所述磁致伸缩位移测量装置具有用于引导至少一个机械波(W1、W2)的波导(2),具有至少一个阻尼区(5),具有沿着所述位置测量装置(1)的测量范围(11)可移动地布置的磁性位置编码器(4)以及具有检测单元(3),其中所述至少一个机械波(W1、W2)借助于具有时钟频率(f)的激励信号(IP)产生,特征在于产生分别具有不同时钟频率(f1、f2、f)的至少两个机械波(W1、W2),其中可预先确定所述时钟频率(f1、f2、f)使得在所述位移测量装置(1)的所述测量范围(11)的不同位置(xn)处发生干扰反射(R1n、R2n),且在所述位置编码器(4)的过程期间,沿着所述测量范围(11)在所述不同时钟频率(f1、f2、f)之间发生切换,使得所述测量范围(11)的所述个别不同位置(xn)处的所述干扰反射(R1n、R2n)受到屏蔽。
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