[发明专利]一种提升五轴数控机床加工精度的工艺方法有效

专利信息
申请号: 201810771071.X 申请日: 2018-07-13
公开(公告)号: CN108776459B 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 马文魁;吴艳霞;谢秋晨;李宁;武燕;李伟 申请(专利权)人: 河南机电职业学院
主分类号: G05B19/4097 分类号: G05B19/4097
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 曾龙
地址: 450000 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种提升五轴数控机床加工精度的工艺方法,包括偏差计算、点云镜像计算和理论曲面调整这几个步骤。本发明的优点:考虑到多种误差源对零件加工精度的影响,本发明提出了一种提升复杂曲面五轴加工精度的工艺方法,不仅及时修正了精加工刀具路径,有效的降低了复杂曲面零件加工的报废率,而且提高了五轴数控机床的制造加工精度。
搜索关键词: 一种 提升 数控机床 加工 精度 工艺 方法
【主权项】:
1.一种提升五轴数控机床加工精度的工艺方法,其特征在于:包括以下步骤:A、偏差计算:利用理论曲面轮廓信息数据,对曲面进行采样点规划,应用在线检测技术,获得采样点坐标。实际加工轮廓的采样点云通过沿法线方向接触零件表面获得,采样点对于理论曲面的位置偏差可表示为:式中,表示采样点Qh的三维坐标,表示采样点Qh在理论曲面轮廓上的理论点Gh的三维坐标;B、点云镜像计算:以实际曲面轮廓的采样点为基础数据,利用“镜像”原理对采样点进行反向偏置移动,得到“镜像”点云。设“镜像”点为Ui,“镜像”点Ui可表示为:式中,分别为“镜像”点和采样点的三维坐标;ΔEh为采样点对于理论曲面的位置偏差;(nhx,nhy,nhz)为单位法向偏差矢量;C、理论曲面调整:理论曲面模型调整包括以下具体实施步骤:1)将理论曲面加厚Ds(mm),形成参考曲面R,并再次以Ds(mm)厚度进行偏置,形成第一阶段精加工曲面F,从而使精加工阶段的切削用量保持一致;2)对曲面F进行数控加工操作,以参考曲面R作为采样规划基体,实现对加工完成后曲面的在线检测,保存采样点云数据;3)结合参考曲面R,根据公式(1)和(2),实现采样点的位置偏差和点云镜像的计算;4)将点云镜像计算获得数据点记作Cj,由参考曲面R规划的理论采样点记作Cl,然后对理论采样点云进行坐标优化计算,使得Cl到Cj的最大距离最小,并计算获得相应的坐标变换矩阵T;5)将参考曲面R按照计算获得的坐标变换矩阵T进行调整,并调整后的参考曲面R’以Ds(mm)反向进行偏置,得到精加工第二阶段的曲面S;6)将调整后的曲面模型在CAM(Computer Aided Manufacturing)软件中进行刀具加工路径规划,通过后置处理软件生成精加工数控指令。
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