[发明专利]一种高精度宽尺寸粒子场测量方法在审
| 申请号： | 201810773772.7 | 申请日： | 2018-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN109060612A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 吕且妮;徐捷;尉小雪 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 李林娟 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高精度宽尺寸粒子场测量方法，该方法是基于双/多角度不同偏振态的IPI系统，同时记录粒子散射光产生的离焦条纹图，提取不同散射角区域所采集的条纹图的条纹数或条纹频率，计算得到粒子尺寸大小，可测的粒子尺寸范围，即为该双/多路系统可测的最小粒径和最大粒径区间。本发明的这种非接触测量方法具有原理简单、测量精度高、实用性强等特点，可用于喷雾粒子场、气溶胶粒子场测量。 | ||
| 搜索关键词： | 尺寸粒子 测量 条纹图 粒子 测量精度高 非接触测量 粒子散射光 气溶胶粒子 多路系统 喷雾粒子 条纹频率 最大粒径 最小粒径 偏振态 散射角 条纹 可用 离焦 采集 记录 | ||
【主权项】：
1.一种高精度宽尺寸粒子场测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：1)片状光束照射粒子场，粒子发生散射，由成像透镜、探测器CCD组成的成像系统接收粒子的散射光，这一成像系统称为IPI系统；2)在两或多个散射角区域，搭建IPI成像系统，同时记录粒子的离焦条纹图；3)对上述两路或多路系统采集到的粒子离焦条纹图，提取条纹数N或条纹频率F，由如下公式计算得到粒子直径d：![]()
式中，F＝N/Φ，Φ为粒子干涉图所占的像素数，θ为散射角，α为光学系统的收集角，λ为激光波长，m＝n/n0,n/n0＞1为相对折射率，n、n0分别为粒子折射率和周围介质折射率；4)该两路或多路系统可测的最大和最小值区间，即为可测的粒子尺寸范围。
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