[发明专利]一种GaN基绝缘栅双极型晶体管及其加工方法有效
申请号: | 201810776006.6 | 申请日: | 2018-07-16 |
公开(公告)号: | CN109037322B | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 张雄;赵见国;崔一平 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06;H01L21/78;H01L21/331 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 徐红梅 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明公开了一种GaN基绝缘栅双极型晶体管及其加工方法,其芯片结构包括由下至上依次设置的衬底、GaN或AlN缓冲层、掩膜层、GaN柱状层、GaN集电区、N型Al |
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搜索关键词: | 一种 gan 绝缘 栅双极型 晶体管 及其 加工 方法 | ||
【主权项】:
1.一种GaN基绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,其芯片结构包括由下至上依次设置的衬底(101)、GaN或AlN缓冲层(102)、掩膜层(103)、GaN柱状层(104)、GaN集电区(105)、N型AlxGa1‑xN缓冲层(106)、GaN飘移区(107A)和MOS结构区(107B)。
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