[发明专利]一种GaN基绝缘栅双极型晶体管及其加工方法有效

专利信息
申请号: 201810776006.6 申请日: 2018-07-16
公开(公告)号: CN109037322B 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 张雄;赵见国;崔一平 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06;H01L21/78;H01L21/331
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 徐红梅
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种GaN基绝缘栅双极型晶体管及其加工方法,其芯片结构包括由下至上依次设置的衬底、GaN或AlN缓冲层、掩膜层、GaN柱状层、GaN集电区、N型AlxGa1‑xN缓冲层、GaN飘移区和MOS结构区。设置掩膜层可以触发GaN的外延生长模式由二维平面生长转换为柱状生长,有助于消除GaN与衬底间失配引起的应力、提高外延层的晶体质量;还能实现从GaN柱状层处进行剥离的工艺,极大地降低碎片几率,大幅度提高器件的成品率。引入N型AlxGa1‑xN缓冲层,以相对较小的厚度即可有效消除器件关断时的拖尾电流,提高器件性能。对于制备高成品率、低成本、小关断功耗的GaN基绝缘栅双极型晶体管具有重要意义。
搜索关键词: 一种 gan 绝缘 栅双极型 晶体管 及其 加工 方法
【主权项】:
1.一种GaN基绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,其芯片结构包括由下至上依次设置的衬底(101)、GaN或AlN缓冲层(102)、掩膜层(103)、GaN柱状层(104)、GaN集电区(105)、N型AlxGa1‑xN缓冲层(106)、GaN飘移区(107A)和MOS结构区(107B)。
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