[发明专利]一种低功耗设备使用年限的测试方法在审
| 申请号： | 201810778355.1 | 申请日： | 2018-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN108828310A | 公开（公告）日： | 2018-11-16 |
| 发明（设计）人： | 巫钟兴;祝恩国;邹和平;郑安刚;刘兴奇;张宇鹏;许岳楼;马亚彬;叶方彬;庄磊;杨乐;王朝亮;王伟峰;周利华;张丽楠;韩月 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国网安徽省电力有限公司电力科学研究院;国网浙江省电力有限公司电力科学研究院;国网安徽省电力有限公司 |
| 主分类号： | G01R22/06 | 分类号： | G01R22/06 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 胡秋立 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低功耗设备使用年限的测试方法，属于设备测试技术领域。本发明具体方法包括：步骤一，启动测试，将低功耗设备接入功耗测试仪器中；步骤二：读取低功耗设备休眠模式的静态功耗Ps、电池电压U，电流Is；步骤三：读取低功耗设备高频工作模式的功耗Pw、电流Iwi；步骤四：使低功耗设备运行在模拟真实环境中，增加典型状态被触发后占用的时间所消耗的功耗，得到单位时间t的正常模式的功耗P；步骤五：使用被测试低功耗设备电池容量Q除以单位时间下的常态功耗，计算出被测试设备现场使用情况下的使用年限T。本发明通过在实验室精确测出低功耗设备在不同运行模式下的运行功耗，进而计算出低功耗设备投入现场运行后的使用年限。 | ||
| 搜索关键词： | 低功耗设备 功耗 测试 读取 被测试设备 典型状态 电池电压 电池容量 工作模式 功耗测试 静态功耗 设备测试 现场使用 休眠模式 运行功耗 运行模式 真实环境 正常模式 触发 常态 消耗 占用 | ||
【主权项】：
1.一种低功耗设备使用年限的测试方法，其特征在于，包括：步骤一，启动测试，将低功耗设备接入功耗测试仪器中；步骤二：读取低功耗设备休眠模式的静态功耗Ps、电池电压U，电流Is；Ps＝U×Is (1)步骤三：读取低功耗设备高频工作模式的功耗Pw、电流Iwi；![]()
步骤四：使低功耗设备运行在模拟真实环境中，增加典型状态被触发后占用的时间所消耗的功耗，得到单位时间t内正常模式的功耗P，所述t为单位时间内低功耗设备休眠模式时间ts和低功耗设备工作模式时间twi的和；![]()
t＝ts+tw (4)![]()
步骤五：使用被测试低功耗设备电池容量Q除以单位时间下的常态功耗，计算出被测试设备现场使用情况下的使用年限T；![]()
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