[发明专利]一种功率器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201810780663.8 申请日: 2018-07-17
公开(公告)号: CN109065532B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 李洪南 申请(专利权)人: 眉山国芯科技有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 代理人: 赵爱婷
地址: 620010 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种功率器件及其制作方法,包括:第一导电类型的衬底;形成于所述衬底上表面的第一导电类型的第一外延层;防静电结构,包括第一导电类型的第二外延层及第二导电类型的第三外延层;形成于所述第一外延层上表面的源区;形成于所述第一外延层上表面的栅极氧化硅层;形成于所述栅极氧化硅层上表面的栅极多晶硅层;形成于所述第一外延层上方的介质层;连接所述栅极多晶硅层与所述防静电结构的多晶硅通道;形成于所述介质层上表面的第一金属层及第二金属层;形成于所述衬底下表面的第三金属层。本发明缩小了器件面积,减少了封装制造成本,提高了产品可靠性。
搜索关键词: 一种 功率 器件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种功率器件的制作方法,其特征在于,包括:提供第一导电类型的衬底;在所述衬底上表面形成第一导电类型的第一外延层;在所述第一外延层上表面形成第一导电类型的第二外延层,所述第二外延层的离子浓度高于所述第一外延层;在所述第二外延层上表面形成第二导电类型的第三外延层,所述第三外延层的离子浓度高于所述第一外延层;刻蚀所述第二外延层和所述第三外延层,形成防静电结构;在所述第一外延层上表面形成源区;在所述第一外延层上表面形成栅极氧化硅层;在所述栅极氧化硅层上表面形成栅极多晶硅层;在所述第一外延层上表面形成介质层,使所述栅极氧化硅层、所述栅极多晶硅层以及所述防静电结构位于所述介质层内;在所述介质层内形成多晶硅通道,所述多晶硅通道将所述栅极多晶硅层与所述防静电结构连接;在所述介质层上表面形成第一金属层及第二金属层,所述第一金属层贯穿所述介质层与源区连接形成源极,所述第二金属层贯穿所述介质层与所述栅极多晶硅层连接形成栅极;在所述衬底下表面形成第三金属层,所述第三金属层与所述衬底连接形成漏极。
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