[发明专利]一种功率器件及其制作方法有效
申请号: | 201810780663.8 | 申请日: | 2018-07-17 |
公开(公告)号: | CN109065532B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 李洪南 | 申请(专利权)人: | 眉山国芯科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 | 代理人: | 赵爱婷 |
地址: | 620010 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供一种功率器件及其制作方法,包括:第一导电类型的衬底;形成于所述衬底上表面的第一导电类型的第一外延层;防静电结构,包括第一导电类型的第二外延层及第二导电类型的第三外延层;形成于所述第一外延层上表面的源区;形成于所述第一外延层上表面的栅极氧化硅层;形成于所述栅极氧化硅层上表面的栅极多晶硅层;形成于所述第一外延层上方的介质层;连接所述栅极多晶硅层与所述防静电结构的多晶硅通道;形成于所述介质层上表面的第一金属层及第二金属层;形成于所述衬底下表面的第三金属层。本发明缩小了器件面积,减少了封装制造成本,提高了产品可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种功率器件的制作方法,其特征在于,包括:提供第一导电类型的衬底;在所述衬底上表面形成第一导电类型的第一外延层;在所述第一外延层上表面形成第一导电类型的第二外延层,所述第二外延层的离子浓度高于所述第一外延层;在所述第二外延层上表面形成第二导电类型的第三外延层,所述第三外延层的离子浓度高于所述第一外延层;刻蚀所述第二外延层和所述第三外延层,形成防静电结构;在所述第一外延层上表面形成源区;在所述第一外延层上表面形成栅极氧化硅层;在所述栅极氧化硅层上表面形成栅极多晶硅层;在所述第一外延层上表面形成介质层,使所述栅极氧化硅层、所述栅极多晶硅层以及所述防静电结构位于所述介质层内;在所述介质层内形成多晶硅通道,所述多晶硅通道将所述栅极多晶硅层与所述防静电结构连接;在所述介质层上表面形成第一金属层及第二金属层,所述第一金属层贯穿所述介质层与源区连接形成源极,所述第二金属层贯穿所述介质层与所述栅极多晶硅层连接形成栅极;在所述衬底下表面形成第三金属层,所述第三金属层与所述衬底连接形成漏极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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