[发明专利]四极质量分析器及质量分析方法有效

专利信息
申请号: 201810781345.3 申请日: 2018-07-17
公开(公告)号: CN110729171B 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 蒋公羽;孙文剑 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42;H01J49/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 高彦
地址: 日本国京都府京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的四极质量分析器对四极杆系统的稳定带形成方式进行了优化,便于离子通过和阻挡多余离子,从而在离子传输效率不降低的情况下提升质量分辨。本发明的方案中避免了前述现有技术中对离子两方向共振频率控制中需要的高频交流信号的叠加,可有效减少快速射频电路中带宽限制所导致的射频电压非线性畸变引起四极杆的工作性能降低风险。同时,由于降低了所需各种交流激发信号的极限带宽,四极质谱所需的离子控制电场的扫描速度也可以更快速的控制。有利于获得高速的四极扫描质谱性能。
搜索关键词: 质量 分析器 分析 方法
【主权项】:
1.一种四极质量分析器,其特征在于,包括:/n第一对杆电极,沿一轴线方向放置在第一平面内;/n第二对杆电极,沿所述轴线方向放置在第二平面内,所述第二平面与所述第一平面垂直,以令所述第一对杆电极与第二对杆电极组成四级杆;/n一直流电源,用于提供两对杆电极之间的直流电势差U;/n一射频电源,用于提供两对杆电极之间的RF电压,所述RF电压的幅值为V,频率为Ω;/n一第一交流频率源,用于驱动两对杆电极之间的第一交流激发电压,所述第一交流激发电压电压幅值比所述RF射频电压的幅值V要小,记为V
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