[发明专利]光学检测像素单元、电路、光学检测方法和显示装置有效
| 申请号： | 201810782411.9 | 申请日： | 2018-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN108922940B | 公开（公告）日： | 2020-03-06 |
| 发明（设计）人： | 丁小梁;董学;王海生;刘英明;郑智仁;王鹏鹏;韩艳玲;刘伟 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L31/14 | 分类号： | H01L31/14;G09F9/30 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;刘伟 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学检测像素单元、电路、光学检测方法和显示装置。所述光学检测像素单元包括光感元件和检测晶体管，其中，所述光感元件的第一极与光电压端连接，所述光感元件的第二极与所述检测晶体管的栅极连接；所述光感元件用于在所述光电压端的控制下，检测光信号；所述检测晶体管的第一极与检测电压线连接，所述检测晶体管的第二极与读取线连接。本发明采用的晶体管数目少，利于大阵列集成。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 像素 单元 电路 方法 显示装置 | ||
【主权项】：
1.一种光学检测像素单元，其特征在于，包括光感元件和检测晶体管，其中，所述光感元件的第一极与光电压端连接，所述光感元件的第二极与所述检测晶体管的栅极连接；所述光感元件用于在所述光电压端的控制下，检测光信号；所述检测晶体管的第一极与检测电压线连接，所述检测晶体管的第二极与读取线连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
