[发明专利]基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除效果的方法在审
申请号: | 201810794165.9 | 申请日: | 2018-07-19 |
公开(公告)号: | CN109087287A | 公开(公告)日: | 2018-12-25 |
发明(设计)人: | 刘红;王敏娜;付玉明 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/90;G06K9/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除效果的方法,其包括步骤:首先使用菌斑清除设备上的相机分别对进行菌斑清除前后的材料表面进行拍摄,获得清除前后的菌斑图像;使用聚类方法准确获得菌斑图像中的高光区域并对其进行标记;对标记好高光区域的菌斑图像进行高光去除处理;对去除高光后的菌斑图像进行特征提取,将特征向量进行归一化处理作为神经网络的数据集对模型进行训练,用于识别菌斑并进行标记。对菌斑图像标记的菌斑区域计算面积。清除率为菌斑清除前后图像中标记菌斑区域面积之比。本发明可以有效地得到菌斑清除前后图像中菌斑面积,从而可以比较准确得到菌斑清除效率。 | ||
搜索关键词: | 菌斑 图像 图像分析 舱室 高光 去除 归一化处理 高光区域 清除设备 区域计算 神经网络 特征提取 特征向量 图像标记 标记菌 光区域 清除率 数据集 有效地 聚类 相机 拍摄 | ||
【主权项】:
1.一种基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除度的方法,其特征在于,包括步骤:对获得的菌斑图像进行去高光处理,准确获得菌斑图像中的高光区域,对标记好高光区域的菌斑图像进高光去除处理;对高光去除后的菌斑图像进行特征提取获得颜色特征参数,和LBP特征谱的统计直方图作为特征向量,将以上特征向量进行归一化处理作为神经网络的数据集对模型进行训练,识别菌斑并对其进行标记;菌斑面积计算:对图像标记的菌斑区域计算面积;计算清除率:清除率为菌斑清除前后图像标记菌斑区域面积之比。
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