[发明专利]用于测量待测闪烁体电子相对光产额的探测系统及方法有效
| 申请号： | 201810796294.1 | 申请日： | 2018-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN108983281B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 易义成;宋朝晖;卢毅;韩和同;张侃;管兴胤;刘君红;李刚 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 倪金荣 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及辐射测量技术领域，针对闪烁体反冲康普顿电子发光响应测量中，使用外部电子源时，电子光产额测量受到表面效应和X射线逃逸影响而无法准确测量的问题，提供一种用于测量待测闪烁体电子相对光产额的探测系统及方法；其中用于测量待测闪烁体电子相对光产额的探测系统包括伽马辐射源、前端铅准直器、前端探测器、后端铅准直器、后端探测器和具有波形符合功能的示波器；前端探测器包括第一光电倍增管；后端探测器包括第二闪烁体和第二光电倍增管；后端铅准直器设置在第二光电倍增管的接收端一侧；第二闪烁体设置在后端铅准直器与第二光电倍增管之间；第一光电倍增管和第二光电倍增管分别与示波器电连接。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 闪烁 电子 相对 光产额 探测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量待测闪烁体电子相对光产额的探测系统，其特征在于：包括伽马辐射源(1)、前端铅准直器(2)、前端探测器、后端铅准直器(5)、后端探测器和具有波形符合功能的示波器(3)；所述前端探测器包括第一光电倍增管(4)；所述后端探测器包括第二闪烁体和第二光电倍增管(6)；所述前端铅准直器(2)位于伽马辐射源(1)的光路上；伽马辐射源(1)经前端铅准直器(2)准直，待测闪烁体(7)的待测位置位于准直后的射线通道上；所述第一光电倍增管(4)的轴线垂直于射线通道轴线；所述第二光电倍增管(6)对准放置待测闪烁体(7)的位置，其轴线与射线通道轴线相交；所述后端铅准直器(5)设置在第二光电倍增管(6)的接收端一侧，其准直孔轴线与第二光电倍增管(6)的轴线重合；所述第二闪烁体设置在后端铅准直器(5)与第二光电倍增管(6)之间，第二光电倍增管(6)的接收端与第二闪烁体表面紧密贴合；所述第一光电倍增管(4)和第二光电倍增管(6)分别与示波器(3)电连接。
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