[发明专利]数据异常分析的方法及系统在审
| 申请号： | 201810798436.8 | 申请日： | 2018-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN108984381A | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 付伶伶 | 申请（专利权）人： | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅 |
| 地址： | 430205 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种数据异常分析的方法及系统，首先验证一组数据是否满足正态分布，若满足正态分布，则获取该组数据的正态分布函数及其上限值及下限值；若不满足正态分布，则通过核密度估计方法得到该组数据的数据分布函数，再通过图基检验计算得到该组数据的上限值及下限值，并判断该组数据中的数据是否在正态分布函数或数据分布函数的上限值及下限值之外，在所述上限值及下限值之外的数据即为异常值，填补了在一组机台数据在呈现非正态分布时数据分析的空白，提高了对机台的异常值检测的精度，降低了出机台现异常情况的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 组数据 正态分布 机台 正态分布函数 数据分布 数据异常 非正态分布 核密度估计 异常值检测 机台数据 数据分析 图基 分析 验证 填补 检验 | ||
【主权项】：
1.一种数据异常分析的方法，其特征在于，所述数据异常分析的方法包括：S1：提供一组数据，验证该组数据是否满足正态分布，若该组数据满足正态分布，执行步骤S2，若该组数据不满足正态分布，执行步骤S3；S2：获取该组数据的正态分布函数，并求出所述正态分布函数的上限值及下限值，在所述正态分布函数的上限值及下限值之外的数据为该组数据的异常值；S3：通过核密度估计方法得到该组数据的数据分布函数，并求出所述数据分布函数的上限值及下限值，在所述数据分布函数的上限值及下限值之外的数据为该组数据的异常值。
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